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自营GIN精展平面平晶55155/GOF
产品亮点：通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形，其中一个表面精确抛光，可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。
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产品详情
通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形，其中一个表面精确抛光，可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。
平晶是利用光波干涉现象测量平行度及平面度误差的，故其测量方法称为平晶干涉法，也称技术光波干涉法。通过平面平晶的干涉条纹图案可对测量表面的平面度进行检测。呈圆环形，其中一个表面精确抛光，可用于检测量块、压板基准面、千分尺测量面或其它任何高反射率的平坦表面的平面度。
单位：mm
| 订购编号 Order No. | 规格明细 | 直径 | 厚度 | 平行度 | 平面度 |
| 55155-01 | 单平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.1μm |
| 55155-02 | 双平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.1μm |
| 55155-03 | 单平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.03μm |
| 55155-04 | 双平面水晶 | φ45 | 15 | 一 | 0.03μm |
| 55155-05 | 单平面水晶 | φ50 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-06 | 双平面水晶 | φ50 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-07 | 单平面水晶 | φ60 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-08 | 双平面水晶 | φ60 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-09 | 单平面水晶 | φ75 | 20 | 一 | 0.03μm |
| 55155-10 | 双平面水晶 | φ75 | 20 | 一 | 0.03μm |
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GIN精展平面平晶55155/GOF
品牌：比尔(KORNICHE)
型号：TAPPING FLUID
