ZEISS METROTOM 1工业CT无损检测隐蔽缺陷内部结构检测

zeiss metrotom 1主要应用于：无损检测，一个扫描多个工件，检测功能：测量内部和外部结构尺寸，检查内部缺陷。ZEISS METROTOM 1主要应用于：无损检测，一次扫描多个工件，检测功能：测量内部和外部结构尺寸，检查内部缺陷。

1、可快速、全面、可重复及精准的三维数据

2、相比三坐标测量仪、光学、超声检测更高效

一次扫描 – 全面确定无疑：测量、分析及检测无法以常规仪器探测的隐藏缺陷及内部结构；
借助X射线，您可无损切剖及洞悉内在；
无需复杂装夹，节省时间及成本；
通过对所有内外结构进行计算机断层扫描成像（CT），即便无CAD模型也可重新复制工件。

3、洞悉您所有的工件尺寸 即便隐藏部分

4、简易操作对于高效流程至关重要

可面向车间场景及用户使用

包括：
全合一软件方案
直观的用户界面
自动参数确认
测量空间的数字化设置

简易操作可覆盖研发至生产等多样化作业且确保灵活性